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商品介绍
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半导体设备3
  • 线上监测拉曼光谱系统

    RamMaster In-line monitoring Raman Spectroscopy
    特色:
    *直射式雷射设计,有效提升量测灵敏度
    *可选择多种激发光源
    *可依需求配置不同解析度的侦测系统
    *体积小,方便产线架设


  • 线上膜厚检测系统 Elli-RSc-AMPE

    光谱式反射仪为高速膜厚量测系统,1秒钟内完成单点量测(依材料性质而异)。最高可量测3层薄膜(依材料性质而异),厚度范围10nm – 50mm(依材料性质而异)。配备显微镜系统,光点大小可调整,适用於半导体、OLED、高分子、太阳能…等相关研究及材料厚度检测。


  • 自动化共轭焦显微拉曼光谱仪

    UniDRON-semi Automatic Control Confocal Micro Raman / PL Spectroscopy

    特色:
    *全自动控制设计
    *最高支援5组雷射
    *可容纳12寸晶圆全范围扫描


  • 碳化矽/晶圆应力检测机

    应用:半导体产业